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cypress赛普拉斯基于动态电流的检测技术可以检测出前两种方法无法检测到的故障，进一步扩大了故障覆盖范围。 虚拟测试不需要测试实际芯片，只测试模拟芯片，适合在芯片制造前进行。因此，后人对静态电流检测方法进行了不断的改进，先后提出了差分静态电流检测技术、电流比诊断法、基于聚类技术的静态电流检测技术。 动态电流诊断技术于1990年代问世。动态电流可以直接反映状态转换时电路内部电压的开关频率。它可以及时发现芯片设计中的故障，但没有考虑芯片实际制造和运行中的噪声或差异。 功能测试根据芯片在测试过程中能否完成预期的功能来判断芯片是否有故障。